Rational White Light Interferometry Profiler พื้นผิวออปติคอลความเร็วสูง

Rational White Light Interferometry Profiler ผิวออปติคอลความเร็วสูง

สรุปสินค้า:

เมื่อรวมกับกล้องจุลทรรศน์และอินเตอร์เฟอโรมิเตอร์ White Light Interferometer ที่มีการวัด 3 มิติของความสูงในการสแกนแนวตั้งที่ 400um เหมาะสำหรับการวัดร่างและโปรไฟล์ของวัสดุและส่วนประกอบขนาดเล็กต่างๆ เครื่องมือนี้ไม่ต้องการโปรแกรมที่แก้ไขโดยแสงที่ซับซ้อน มันใช้กันอย่างแพร่หลายในเลนส์แก้ว, พื้นผิวของฟิล์มเคลือบ, เวเฟอร์, ดิสก์, MEMS (ระบบเครื่องกลไฟฟ้าขนาดเล็ก), จอแอลซีดีเครื่องบิน, PCB ความหนาแน่นสูง, บรรจุภัณฑ์ IC, การวิเคราะห์วัสดุ, การวิจัยพื้นผิวไมโคร ฯลฯ

คุณสมบัติ:

1. การวัด 3 มิติสำหรับวัตถุระดับนาโน
2. ความเร็วสูงและไม่ติดต่อ
3. การวิเคราะห์พื้นผิวโปรไฟล์และความหยาบ
4. วัสดุโปร่งใสหรือไม่โปร่งใสที่มีอยู่
5. การวัดความปลอดภัยที่ไม่ใช่อิเล็กตรอนและไม่ใช่เลเซอร์
6. การบำรุงรักษาต้นทุนต่ำ

ซอฟต์แวร์ประมวลผลและวิเคราะห์กราฟิก 3 มิติระดับมืออาชีพ (โพสต์โทโป):
1. อินเตอร์เฟซคอมพิวเตอร์มนุษย์ที่ใช้งานง่าย
2. การสอบเทียบด้วยตนเองสำหรับฟิล์มมาตรฐานขั้นสูง
3. การวิเคราะห์เชิงเส้นหรือการวิเคราะห์ภูมิภาคสามารถใช้งานได้เมื่อวิเคราะห์ความลึกและความสูง
4. การวิเคราะห์เชิงเส้นมีให้ในความหยาบหรือคลื่นที่กำหนดโดย ISO
5. ข้อมูลจำเพาะการวัด 17 รายการและมีข้อมูลการวัดเพิ่มเติมอีก 4 รายการ
6. การวิเคราะห์ภูมิภาคมีอยู่ในการวิเคราะห์กราฟิกหรือการวิเคราะห์เชิงสถิติ
7. คุณสมบัติการประมวลผล 2D Fourier Transform (FFT) ที่ราบรื่นเช่นการปรับให้เรียบการทำให้แหลมและการกรองแบบดิจิทัล
8. เอาต์พุตผลลัพธ์การวิเคราะห์เป็นไฟล์กราฟิกหลายไฟล์เช่น BMP หรือในรูปแบบ Excel โดยซอฟต์แวร์ Interferometer, ImgScan

ซอฟต์แวร์การวิเคราะห์สัญญาณรบกวนความเร็วสูงและความแม่นยำสูง (ImgScan):

1. ฮาร์ดแวร์ของระบบได้รับการกำหนดค่าด้วยซอฟต์แวร์การประมวลผลล่วงหน้าของ ImgScan เพื่อวิเคราะห์ขอบแสงสีขาวโดยอัตโนมัติ
2. ความสูงแนวตั้งสูงสุดถึง 0.1nm
3. การคำนวณความเร็วสูงและซอฟต์แวร์การวิเคราะห์
4. การตั้งค่าช่วงการสแกนแนวตั้งทำได้ง่ายและสะดวก
5. เลนส์มีให้เลือกใน 10X, 20X หรือ 50X
6. การแสดงตัวเลขของแกน X, Y และ Z ซึ่งทำให้วัตถุที่วัดได้เร็วขึ้นและสะดวกในการตรวจจับ
7. มีความสว่างแบบแมนนวล / แบบอัตโนมัติเพื่อให้ได้การเปรียบเทียบที่ดีที่สุดของขอบแสงสีขาว
8. มีให้ในโหมดการวัดการสแกน PVSI ที่มีความแม่นยำสูงหรือโหมดการวัดการสแกน VSI ความเร็วสูง
9. ซอฟต์แวร์วิเคราะห์ที่จดสิทธิบัตรเหมาะสำหรับการวัดโปรไฟล์ 3 มิติของวัตถุกึ่งโปร่งใส
10. จุดซ่อมรถยนต์
11. ผู้ใช้สามารถกำหนดทิศทางการสแกนได้

ข้อมูลจำเพาะ: